一种基于统计特性的红外图像非均匀性校正方法及装置.pdfVIP

一种基于统计特性的红外图像非均匀性校正方法及装置.pdf

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种基于统计特性的红外图像非均匀性校正方法及装置,其中,校正方法基于多地物场景红外图像带来的丰富像素分布,首先对原始红外图像的像素点进行统计,按照像素值的大小重新排序,进而得到均匀变化的重组数据;之后提取出重组数据中的线性相关区域,最后利用多区域的线性相关来模拟探测器的响应曲线,从而计算出各个像素点的非均匀校正系数。利用本发明,可以克服探测器响应非线性的影响,达到对红外图像中两种不同类型非均匀性同时校正的效果,计算速度快,校正效果好,具有很好的通用性和自适应性,能够有效提高图像的成像

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117553924A

(43)申请公布日2024.02.13

(21)申请号202311503849.6

(22)申请日2023.11.13

(71)申请人中国科学院上海技术物理研究所

地址

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司(原名专利文献出版社)成立于1980年8月,由国家知识产权局主管、主办。长期以来, 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作, 经过多年来的积累,已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

版权声明书
用户编号:5333241143000144
认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地四川
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档