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陀螺仪芯片的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2024-02-14 发布于四川
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陀螺仪芯片的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdf

    本发明公开了一种陀螺仪芯片的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测陀螺仪芯片的芯片图像；将所述芯片图像输入到缺陷检测模型中，以使所述缺陷检测模型根据待检测芯片图像，确定所述待检测陀螺仪芯片的缺陷检测结果。通过实施本发明，可以提高提取检测陀螺仪芯片缺陷特征的能力，大幅降低漏检率和误检率。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117557510A

    (43)申请公布日2024.02.13

    (21)申请号202311440125.1G06V10/82(2022.01)

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