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基于饱和校正与细节增强的过曝光图像处理方法及系统.pdfVIP

基于饱和校正与细节增强的过曝光图像处理方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种基于饱和校正与细节增强的过曝光图像处理方法及系统，获得原始的过曝光图像数据Iin；对过曝光图像数据Iin进行空间光照估计及全局曝光校正处理，得到全局曝光校正结果图像RI；对全局校正结果图像RI区分不同通道饱和类型，依次进行单通道、双通道、三通道的饱和像素校正处理，得到校正后的图像IΩ；对校正后图像IΩ进行双边滤波处理，输出结果图像Iout。本发明通过对图像过曝光区域有着很好的处理效果，能够有效恢复饱和区域的细节信息，增强对比度，让处理后图像的视觉质量大幅提升，更贴近人眼视觉，同时

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117579944A

    (43)申请公布日2024.02.20

    (21)申请号202311529625.2

    (22)申请日2023.11.15

    (71)申请人西安交通大学

    地址710049

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