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本申请公开了一种浪涌测试装置及浪涌测试设备，属于电力电子技术领域。该浪涌测试装置运用于I/V测试系统，其工作模式包括I/V测试模式和浪涌测试模式；其包括耦合及去耦模块，耦合及去耦模块的第一端连接I/V测试装置，耦合及去耦模块的第二端连接被测元件，耦合及去耦模块用于在I/V测试模式下实现I/V测试装置和被测元件之间的连接，以及在浪涌测试模式下实现I/V测试装置和浪涌测试装置之间的去耦与浪涌测试装置和被测元件之间的耦合。本申请解决了在进行浪涌测试前后，需要手动切换被测元件与I/V测试设备以及浪涌测试
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117590113A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202311506790.6
(22)申请日2023.11.13
(71)申请人矽电半导体设备（深圳）股份有限公
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