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本申请公开了一种预测晶体热场分布的方法，包括：确定晶体温场结构变化的参数值，其中，温场结构为腔体结构，中间内置晶体；将晶体的温场结构变化数据的参数值，输入预先训练的温度分布预测模型，预测出温场结构对应的温度分布；其中，温度分布预测模型包括温场结构参数输入层、全连接层神经网络隐含层、温度分布的预测输出层，温度分布为温场结构腔体内的温度分布。在温场结构发生变化时，本申请实施例可以通过温度分布预测模型预测温场结构对应的温度分布，并使得温场结构对应的温度分布处于监测的状态，一旦温度分布预测模型预测出温场
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN111400862A
(43)申请公布日
2020.07.10
(21)申请号20201
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