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用温度传感器检测内部温度和缺陷的存储装置及操作方法.pdfVIP

用温度传感器检测内部温度和缺陷的存储装置及操作方法.pdf

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    提供了一种存储装置和操作存储装置的方法。该存储装置包括：非易失性存储器，其用于存储数据；温度传感器，其具有根据温度传感器的温度而改变的电阻；以及温度测量电路，其包括多个晶体管，多个晶体管基于温度传感器的电流而导通或截止，并且具有彼此不同的阈值电压。温度测量电路可以被配置为向温度传感器施加电流，并且基于从多个晶体管获得的输出电流来产生指示温度传感器的温度或指示对温度传感器的损坏的信息。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117594106A

    (43)申请公布日2024.02.23

    (21)申请号202310910617.6

    (22)申请日2023.07.24

    (30)优先权数据

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