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生产制造中的低功耗测试方法

生产制造中的低功耗测试方法

受无线和高功效器件的普及以及提供“绿色”电子系统的需求驱动，设计师越来越多地采用低功率设计来应对越来越艰巨的功能性功耗挑战。直到最近，管理制造测试过程中的功率问题已经成为第二大备受业界关注的要求。但随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低，越来越多的人认识到测试过程中过大的功耗会影响数字IC的可靠性，并导致电源引起的故障、过早失效，以及最终测试时发生错误问题。这些现象的发生要求制造测试采用特殊的电源管理和低功率设计技术。

功能模式与测试模式比较

多份研究表明，深亚微米器件的测试模式功耗要比功能模式高好几倍。虽然典型测试模式功耗