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实验一 核衰变与放射性计数的统计规律实验报告

一. 实验目的

第一部分 G-M计数器

1、了解G-M管的工作原理，掌握其基本性能及其测试方法。

2、学会正确使用G-M管计数装置的方法。

3、了解探测器输出信号与输出回路参数的关系，学会正确选择G-M管计数系统输出回路参量。

二. 实验内容

1、在一定的甄别阈下，测量卤素G-M管的坪曲线，确定这些坪曲线的各个参量并选择工作电压。

2、用示波器观察法和双源法测定卤素G-M管计数装置的分辨时间。

3、观察并记录G-M计数管的输出电流、电压脉冲与工作电压及输出回路参数的关系。

三. 实验原理

1、G-M管是一种气体探测器。当带电粒子射入其灵敏体积时，引起气体原子电离。电离产生的电子在阳极丝附近的强电场中又引起一系列碰撞电离，即触发“自持放电”。这一过程产生的电子和正离子向两极漂移时，在外回路产生脉冲信号。2、从G-M管的工作机制可以看出，入射带电粒子仅仅起一个触发放电的作用，G-M管的输出电流、电压信号的幅度与形状和入射粒子种类与能量无关，只和计数管的几何参量、工作电压以及输出回路参量有关。

图1-1G-M计数管的坪曲线在G-M管的使用中，坪特性是其最重要的性能之一。坪特性是判断管子好坏的主要依据，也是选择管子工作电压的依据。坪特性曲线就是在一定的实验条件下当入射粒子的注量率不变时，计数管的计数率随工作电压变化的曲线，见图1－

图1-1G-M计数管的坪曲线

表征坪特性的参量主要有：

起始电压(Vs)：即计数管开始计数时的电压。

坪长： 坪长=V-V（单位：百伏）

B A

（1-1）

这是管子的工作区域，工作电压一般可选在坪区的

1~1

的范围内。

坪斜：坪斜?n

(n ?n)

BAn

B

A

3 2

?100% （单位：％/百伏）

（1-2）

B A(V

2 B

?V)

A

坪斜主要是由假计数引起的，当然它的值越小越好。

当工作电压高于V 时，曲线急剧上升，表明管子内发生了持续放电，这会大

B

大缩短管子的寿命，因此在使用中必须注意避免这种情况。

3、计数装置的分辨时间就是它能区分连续入射的两个粒子之间的最小时间间隔。G-M管的工作机制决定了它的分辨时间远大于其它探测器，使用时要特别注意。G-M管在一次放电后，正离子鞘空间电荷使阳极附近气体放大区域内的电场减弱，一直要等到正离子鞘漂移了一段距离后，阳极表面电场才能恢复到可以引起自持放电的阈值以上，在这一段时间内即使有带电粒子射入也不能引起放

电，这一段不起作用的时间称为失效时间(或称死时间)，以t记之，一般为100

d

us左右。此后，正离子鞘继续向阴极漂移，再经过t时间到达阴极，这时计数

r

管才完全恢复到放电以前的状态，这一段时间t

r

称为恢复时间，在此期间，计

数管能工作，但输出脉冲幅度小于原来工作状态时的输出。实际上记录脉冲时，

计数装置总有一定的甄别阈V

th

，只有当入射粒子的输出脉冲幅度恢复到高于甄

别阈时才能计数。?称为计数装置的分辨时间，显然?的大小与V

th

有关，甄别阈

越低?越小，但总是大于计数管的失效时间td，见图1-2。

图1-2当RC较小，计数率较强时计数管的输出波形

由于存在分辨时间?，若相继进入计数管的两个粒子的时间间隔小于分辨时

间，第二个粒子就会被漏计，造成计数损失。设m为单位时间内计数装置实际测得的平均粒子数，n为单位时间内真正进入计数管的平均粒子数，?为计数装

置的分辨时间，当甄别阈低时??t

d

，在计数率不太高，即m?较小和分辨时间

??t

d

不变时，单位时间内计数装置漏计的粒子数为：

n?m?nm?

由此可得：

n? m

1?m? （1-3）

因此，只要知道计数装置的分辨时间?，就可对由此产生的漏计数进行校正。常用的测量G-M管计数装置分辨时间的方法有两种：

示波器直接观察法

为此必须采用较强的放射源，使粒子在失效时间和恢复时间内射入计数管的概率足够大。把计数管的输出脉冲输入到处于触发扫描工作状况的脉冲示波器中，由于视觉暂留作用和示波屏上波形是多次扫描的重叠，还由于脉冲出现在时间上是随机的，所以，当输出回路的RC值较小而计数率较高时，在合适的工作电压下，在示波器屏上可以观察到图1－2所示的波形。后继的幅度较小的脉冲是每次正常放电的脉冲触发示波器后正在进行扫描的那段时间内射入计数器的粒子

引起的脉冲的叠合。

d由示波器屏上的波形可以直接读出失效时间t及恢复时间t。但要确定计数

d

r

th装置的分辨时间τ则需要确定甄别阈Vth的大小，Ｖ 的值可以由计数装置刚开始有计数时的