中子探测器的刻度方法.pdfVIP

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2024-02-28 发布于四川
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中子探测器的刻度方法.pdf

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本发明的实施例公开一种中子探测器的刻度方法。刻度方法包括：步骤S1，将临界装置产生的中子束流慢化为超热中子束流；步骤S2，获取体模内当前中子注量下多个不同待测位置的中子剂量；步骤S3，在多个不同待测位置分别布置中子探测器；步骤S4，控制超热中子束流照射体模，同时各中子探测器进行测量，获得在当前中子注量下各个待测位置的中子计数；步骤S5，调节超热中子束流的中子注量，并重复步骤S2至S4，得到不同中子注量下各个待测位置的中子剂量和中子计数；步骤S6，根据不同中子注量下各个待测位置的中子剂量和中子计数

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117607944A

(43)申请公布日2024.02.27

(21)申请号202311568479.4

(22)申请日2023.11.22

(71)申请人中国原子能科学研究院

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