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- 2024-02-28 发布于四川
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本申请涉及一种膜层透过率的测量方法、装置、设备及存储介质，其中，膜层透过率的测量方法包括：根据未镀膜的透明基片的折射率，确定未镀膜的透明基片的透过率计算值；通过分光光度计测量镀膜后的透明基片的透过率，得到镀膜后的透明基片的透过率测量值；根据镀膜后的透明基片的透过率测量值以及修正系数，确定镀膜后的透明基片的透过率修正值，其中，修正系数表征由于放置厚基片导致探测光束打在探测器不同位置而产生的系统误差；根据未镀膜的透明基片的透过率计算值以及镀膜后的透明基片的透过率修正值，确定透明基片所镀膜层的透过率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117607101A
(43)申请公布日2024.02.27
(21)申请号202311629527.6
(22)申请日2023.11.29
(71)申请人华中光电技术研究所（中国船舶集
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