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大容量存储器集成电路测试
大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDRSDRAM和：flashRAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和测试程序研究开发,其次是测试板、适配器及生产性测试设备的研制和设备结构制作和调试等。特点是基于大容量存储器集成电路的结构,采用全新的测试技术理论和较通用的测试设备,实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测及成品测试。目前对高兆位存储器电路能大批量测试的设备非常昂贵,低价的专用存储器电路测试仪又不能满足测试的可靠性和通用性要求,因此该项目将大大
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