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本发明公开了一种测试EML眼图测试方法，涉及芯片封装测试技术领域，该测试方法包括以下步骤：S1、确定眼图测试环境，并利用示波器将光信号转换为电信号与误码仪信号进行比较，判断眼图形态质量；S2、分别对EML芯片的DC性能测试及高频性能进行测试；S3、根据测试结果设计EML芯片的封装结构，并将EML芯片封装成COS形式。本发明提供的EML眼图测试方法能够通过误码仪和示波器等通信连接以及控温系统与COS组合成一套稳定的眼图测试流程，确保测试环境不会随机波动，从而保证同一批次的不同激光器芯片测试环境相同
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117639923A
(43)申请公布日2024.03.01
(21)申请号202311574471.9
(22)申请日2023.11.23
(71)申请人南京镭芯光电有限公司
地址21
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