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集成电路的性能检查方法、装置、计算机设备和存储介质.pdfVIP

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  • 2024-03-06 发布于四川
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集成电路的性能检查方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf

    本申请涉及一种集成电路的性能检查方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取对应所述集成电路的仿真准备数据和电路数据，其中，所述仿真准备数据包括电路检测节点的参数信息，所述电路检测节点位于电路元件的输入端和输出端；基于所述仿真准备数据和所述电路数据进行仿真，获取仿真结果，所述仿真结果包括各所述电路检测节点的仿真数据；基于所述仿真结果检测各所述电路检测节点的转换时间是否满足预设条件，其中，所述转换时间为高低电平状态切换过程的切换时间；输出不满足预设条件的电路检测节点的节点信息。采用本方法能

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117648893A

    (43)申请公布日2024.03.05

    (21)申请号202311517914.0G06F30/323(2020.01)

    (22)申请日2023.11

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