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一种通过AI识别判断硅晶片是否放置错位及数量读取设备.pdfVIP

一种通过AI识别判断硅晶片是否放置错位及数量读取设备.pdf

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    本发明公开了一种通过AI识别判断硅晶片是否放置错位及数量读取设备，包括用于支撑整个设备的支架；还包括检测机构，所述检测机构包括控制箱和显示屏，所述控制箱的底部一体成型焊接有底架，所述底架的底部对称设置有四组用于放置在支撑台上的脚撑；所述控制箱的底部一侧开设有矩形的检测槽，所述检测槽的内顶部安装有工业相机和照明灯，所述底架上设置有用于放置片盒的检测台。本发明通过光源对晶片片盒照射，利用工业照相机拍照，通过软件AI识别，分析晶片排列是否符合要求，并进行数量识别，相较于传统的人工检测方式，能够有效缩减

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117672920A

    (43)申请公布日2024.03.08

    (21)申请号202311698771.8

    (22)申请日2023.12.12

    (71)申请人上海合晶硅材料股份有限公司

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