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一种基于准光学的太赫兹宽带非接触测试系统及方法.pdfVIP

一种基于准光学的太赫兹宽带非接触测试系统及方法.pdf

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    本发明涉及一种基于准光学的太赫兹宽带非接触测试系统，其包括测试单元、扩展半球透镜和光组件，测试单元设置在扩展半球透镜平面侧上方，每对光组件对称设置在扩展半球透镜球面侧斜下方两侧；测试单元内设有两对平面天线和一对多工器，待测单元分别与两多工器的两个低通滤波器、两个成对的平面天线，以及两个带通滤波器、两个成对的平面天线共线布置形成两条直线光路；光组件均包括一太赫兹扩频装置、一透镜和一反射镜，两个光组件成对。本测试系统及方法其采用太赫兹准光技术实现测试芯片与太赫兹扩频模块之间的非接触连接，同时采用多工

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117664522A

    (43)申请公布日2024.03.08

    (21)申请号202311521141.3

    (22)申请日2023.11.15

    (71)申请人中国电子科技集团公司第四十一研

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