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本发明公开了一种基于复合框架的芯片系统级验证方法，包括以下步骤：S1：将测试用例写成测试函数；S2：将所有测试函数放置在函数指针数组中；S3：定义一个事件记录器；S4：在事件记录器中添加一个对应测试函数的事件，初始状态为未测试；S5：对芯片进行测试，通过测试函数则将对应事件的状态修改为通过，否则修改为失败；S6：重复S4‑S5直至所有测试函数均进行测试；S7：调用函数从事件记录器中将各个事件的状态情况、芯片的重启次数和中断次数进行收集并打印，结束仿真，本申请将多个用例结合在一起，使用函数指针来减
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117667748A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202410128869.8
(22)申请日2024.01.31
(71)申请人成都翌创微电子有限公司
地址6
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