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本发明公开了一种光学理论验证方法及装置,涉及一种对专门用于验证“孔隙类光学现象之微观成因”的光学推论的验证测试方法和验证测试装置。该方法基于对比成像装置,采取光学成像和成像对比的方式实施验证,所述对比成像装置,设有1个共用的投像模块、1个包括至少2个光学单元的理光模块、1个共用的映像模块、1套共用的流体条件调整装置,以及1套将投像模块、理光模块、映像模块组装为一体的导轨;所述光学理论验证方法包括以下步骤:选择光学单元,确定投/成像距离,通过切换光路和/或改变流体条件进行对比测试,获取不同条件下的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117690340A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311559306.6
(22)申请日2023.11.22
(71)申请人深圳市帝拓电子有限公司
地址5
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