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本申请公开了一种芯片性能测试方法及装置，其中，方法包括：创建若干测试模式以及与各测试模式对应的测试数据集；所述测试模式用于模拟芯片作业的不同场景，所述若干测试模式包括：翻译、物体识别、AI绘画、AI换脸、目标检测、图像语义分割和超分辨率中任意一种或几种；配置与各测试模式对应的处理模型；触发待测芯片调用目标处理模型在目标测试模式下、对目标测试数据集执行推理测试，获得目标结果，所述目标测试数据集是与目标测试场景对应的测试数据集；至少基于所述目标结果以及与目标处理模型对应的目标评价标准，确定所述待测芯
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117687860A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311408749.5
(22)申请日2023.10.26
(71)申请人成都安易迅科技有限公司
地址6
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