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一种存储设备的IO性能测试方法.pdfVIP

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  • 2024-03-13 发布于四川
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一种存储设备的IO性能测试方法.pdf

    本发明公开了一种存储设备的IO性能测试方法，涉及存储设备性能测试领域，IO性能测试方法包括：获取存储设备的历史存储数据，基于历史存储数据建立测试数据库；获取存储设备的历史使用数据并在存储设备内划分若干个测试分区；在测试数据库中提取测试数据集并标记目标检测数据；将测试数据集依次输入若干个测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果进行等级评定。其通过比较每

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117690470A

    (43)申请公布日2024.03.12

    (21)申请号202311681452.6

    (22)申请日2023.12.07

    (71)申请人湛江科技学院

    地址524088

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