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- 2024-03-16 发布于四川
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本发明公开了一种复合光学系统及深度检测系统，复合光学系统包括超构透镜阵列、激光器以及图像采集装置；光照强度高于预设光照强度的状态下，激光器为关闭状态，复合光学系统形成光场成像系统，目标场景的反射光透过超构透镜阵列在图像采集装置上形成场景图像；光照强度低于预设光照强度的状态下，激光器为开启状态，复合光学系统形成结构光投影系统，激光器发射的激光束透过超构透镜投射到目标场景，并形成光点阵列，光点阵列反射到图像采集装置上形成光点阵列图像。本发明能够实现无球面像差和宽频消色差的成像需求；本发明进行深度检测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117705061A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202211093767.4
(22)申请日2022.09.08
(71)申请人香港城市大学
地址中国香港九龙
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