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本申请实施例提供的基于智能仪器的光学标校方法及系统，能够有效提高仪器的测量精度和可靠性。通过获取参考仪器和待标仪器对观测物体的原始测量信号，同步其时序特征，然后结合环境监测数据进行筛选，得到更精确的测量信号。利用已知的参考仪器的参考标校系数，可以准确确定待标仪器的当前标校系数，从而为待标仪器的标定提供了一种更精确、更稳定的方法。此外，通过环境监测数据的筛选，能够在不同环境条件下调整测量信号，进一步提升了测量结果的准确性。总体来说，这个技术方案为提高各类仪器的测量精度，优化设备性能，提供了一个实用
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117705177A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202410169301.0G01J1/02(2006.01)
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