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本申请公开了一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，属于芯片测试技术领域。该方法包括：根据预设测试计划测试目标芯片以第一传输速率运行时的吞吐量的同时，监测目标芯片的温度；当监测到目标芯片的温度小于或等于预设温度阈值时，将该时刻的吞吐量值确定为目标芯片当前传输速率所对应的吞吐量；或者，当监测到目标芯片的温度大于预设温度阈值时，通过降低目标芯片的传输速率以使得目标芯片的温度降低至小于或等于预设温度阈值。本方法，在监测到芯片温度超温时采取逐级降低速率的方式对芯片温度进行有效控制，进而可以测得芯片
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117706324A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202311636842.1
(22)申请日2023.11.30
(71)申请人深圳市共进电子股
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