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本发明一种ATE探针漏装检测方法涉及半导体精密仪器技术领域；所述方法在ATE探针漏装检测装置上实现，依次执行以下步骤：步骤a，针管装入针管治具板a；步骤b，接入传送机构；步骤c，治具块移出；步骤d，治具块检测；步骤e，漏装移除；步骤f，治具块移入；步骤g，检测完成；此方法能够实现：由传送机构将左侧的治具板的外框内的治具块移动至右侧空的外框内，在移动过程中，移除机构将内部未装入零件的治具块移除，使右侧空的外框内部的治具块均为装载有零件的治具块，使右侧的治具板的装入率达到百分之百，避免了工作人员手动
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117724180A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202311656588.1
(22)申请日2023.12.05
(71)申请人苏州法特迪科技股份有限公司
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