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本发明公开了一种结构简单、成本低且使用方便的一种基于激光测量的缺陷检测方法，获取检测装置，所述装置包括激光器、第一柱透镜单元、第二柱透镜单元、标记单元、运算单元、光电探头、产品传送带；使用所述第一柱透镜单元，将所述激光器发出的点光转化为线光；所述线光为平行光；获取待测产品，使用所述产品传送带传送所述待测产品进行检测，并使用所述产品传送带对待测产品进行限位，使线光对待测产品上的所述待测区域进行覆盖检测；所述检测从所述线光能照射到所述待测区域开始，到所述线光照射到所述待测区域之外结束。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117723542A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202311095816.2
(22)申请日2023.08.29
(71)申请人杭州电子科技大学技术转移有限公
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