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一种同时检测铁皮石斛、霍山石斛及其常见伪品的基因膜芯片检测方法.pdfVIP

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  • 2024-03-20 发布于四川
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一种同时检测铁皮石斛、霍山石斛及其常见伪品的基因膜芯片检测方法.pdf

    本发明公开了一种同时检测铁皮石斛、霍山石斛及其常见伪品的基因膜芯片检测方法，具体属于石斛品种鉴定技术领域，该方法包括如下步骤：S01、PCR引物及探针设计；S02、PCR扩增；S03、膜芯片制备；S04、杂交显色。通过使用该方法对石斛进行检测，可在3小时内完成石斛属、铁皮石斛、霍山石斛、流苏石斛、齿瓣石斛和石仙桃等源性成分的快速筛查，具有良好的重复性、特异性和灵敏度，本方法对靶标DNA核酸的整体检测限为0.1ng/μL，对铁皮石斛中霍山石斛、流苏石斛、齿瓣石斛和石仙桃的掺伪检出限为1％(质量比)

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117721235A

    (43)申请公布日2024.03.19

    (21)申请号202311737305.6

    (22)申请日2023.12.18

    (71)申请人台州市食品药品检验研究院

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