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本发明提供一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置，该方法包括：获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；根据透射信号和反射信号，确定太赫兹波段材料样本的初始介电参数；确定初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除多种类型的噪声，得到目标介电参数。本发明的方法对介电参数中存在的多种类型的噪声进行针对性的去除，也就可以有效地提升介电参数中噪声去除的针对性和准确性，提升介电参数中噪声去除的效率和准确性，达到提升介电参数准确性的效果。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117743760A
(43)申请公布日2024.03.22
(21)申请号202311674571.9
(22)申请日2023.12.07
(71)申请人首都师范大学
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