一种用于测量2Cr13原奥氏体晶粒度的晶界显示方法.pdfVIP

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2024-03-23 发布于四川
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一种用于测量2Cr13原奥氏体晶粒度的晶界显示方法.pdf

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本发明公开了一种用于测量2Cr13原奥氏体晶粒度的晶界显示方法。本发明所述晶界显示方法为：首先在待检试件上预制金相检验平台；然后待含预制金相检验平台的待检试件进行调质热处理，在预制金相检验平台上形成氧化层后，对预制金相检验平台进行二次金相制样，在显微镜下即可观察到黑色网状氧化带沿原奥氏体晶界分布，实现晶界的显示。通过观测晶界，可以晶粒度测定。本发明通过制备金相检验平台，同时利用热处理过程中产生的氧化层，结合金相制样工艺，获得可观测晶界的图像数据。本发明所述方法不需要复杂的浸蚀试剂配方，简单易操作

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117740778A

(43)申请公布日2024.03.22

(21)申请号202311608849.2

(22)申请日2023.11.28

(71)申请人江苏省特种设备安全监督检验研究

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