一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统.pdfVIP

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2024-03-23 发布于四川
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一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统.pdf

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本发明是关于应用于存储器芯片的抗辐照检测系统，该系统包括：辐照测试模块，用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试；无线通信模块，包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元；无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连，用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送；无线接收单元设置在辐照测试模块之外，用于接收测试数据；无线通信模块包括多种传输模式，控制单元根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式；数据分析模块，用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析，以确定存储器芯片的抗辐照性能。本申请实

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117743064A

(43)申请公布日2024.03.22

(21)申请号202410190568.8

(22)申请日2024.02.21

(71)申请人北京怀美科技有限公司

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