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本发明公开了一种宽波束天线测试设备，涉及宽波束天线测试技术领域，包括：转接件将测试设备底座与升降台连接，测试设备底座设置一限位块；天线载体可转动安装在测试设备底座上，待测天线安装在天线载体上，通过升降台调整设备高度，使得待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动天线载体，利用限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行测试，解决现有技术中微波暗室只能进行方位向一维平动扫描进行天线法向电性能测试，无法对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描的技术问题，达到根据不同
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117748126A
(43)申请公布日2024.03.22
(21)申请号202311747583.XH01Q1/12(2006.01)
(22)申请日2023.12.1
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