内存参数优化方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdfVIP

内存参数优化方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf

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本发明公开了一种内存参数优化方法、装置、电子设备及可读存储介质,方法包括:从缓存片区中获取内存参数优化指令,内存参数优化指令包括用于控制内存条进行读写操作的内存参数值;将内存参数优化指令发送至内存控制器,以供内存控制器根据内存参数优化指令中的内存参数值,对内存条进行测试,以得到和内存参数值对应的测试结果,缓存片区和内存控制器处于中断数据交互的状态;根据测试结果得到目标内存参数值;目标内存参数值,是从达到预设测试要求的内存参数值中选择出的最优值。本发明提高了内存参数优化结果的准确度。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117762710A

(43)申请公布日2024.03.26

(21)申请号202311792083.8

(22)申请日2023.12.22

(71)申请人龙芯中科(成都)技术有限公司

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