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一种基于圆柱凹型腔的面外复介电常数测试装置及方法.pdfVIP

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  • 2024-03-27 发布于四川
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一种基于圆柱凹型腔的面外复介电常数测试装置及方法.pdf

    本发明的目的在于提供一种基于圆柱凹型腔的面外复介电常数测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本装置包括圆柱凹型腔，其靠近电容端侧壁对称设有两个矩形孔，用于放置待测样品；电容端设贯穿其底壁的缝隙，通过缝隙减少底壁与待测样品之间的气隙；除此之外，在圆柱凹型腔短路端设置与中心轴相连的半径呈90°夹角的耦合孔，用于设置耦合装置，实现了高频杂模抑制。本发明的装置结构实现了0.5～12GHz高精度材料面外复介电常数测试。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117761408A

    (43)申请公布日2024.03.26

    (21)申请号202311794417.5

    (22)申请日2023.12.25

    (71)申请人电子科技大学

    地址611731

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