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本发明创造涉及一种基于传感器阵列测量光学的设备及其方法，包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台，所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器，所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据；该光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性，同时该设备可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性，相比较于现有技术，本发明具有更高测量光学的效率，其可以为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117760339A
(43)申请公布日2024.03.26
(21)申请号202410196747.2
(22)申请日2024.02.22
(71)申请人广东熠日照明科技有限公司
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