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本发明涉及一种用于238U干扰下238Pu的热表面电离质谱测量方法，用于克服同量异位素238U对238Pu的干扰，以及校正热蒸发引起的质量分馏影响。本发明中向待测Pu样品溶液中加入U同位素指示剂，利用Pu、U热蒸发电离过程中的行为差异，获得全蒸发过程中多质量数离子流变化曲线，通过最小二乘法拟合计算238Pu/239Pu，本发明最终不依赖标准样品校正质量分馏影响，实现了238Pu/239Pu同位素比值高精度分析，并且能够根据测量结果判断样品中238U与238Pu的含量比。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117761146A
(43)申请公布日2024.03.26
(21)申请号202311060318.4
(22)申请日2023.08.22
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