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本申请实施例提供了一种指令监测方法、装置、设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，该方法包括：在执行芯片性能验证的测试用例过程中，记录每个指令在计算核中的处理过程信息，处理过程信息包括：处理指令的多个处理单元的标识信息以及相应的处理时间信息，这样实现对计算核进行系统层级测试；当系统级验证结果不符合预期结果时，基于指令在计算核中的处理过程信息，可快速从计算核中定位出导致性能问题的具体处理单元，从而提高了芯片性能验证的准确性和效率。其次，将多个指令中对应预设指令类型的目标指令的处理过程信息，添加到测试
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117762718A
(43)申请公布日2024.03.26
(21)申请号202410192438.8
(22)申请日2024.02.21
(71)申请人北京壁仞科技开发
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