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AeC-QIOO-REV-HSePtember11,2014
AeC-QIOO-REV-H
SePtember11,2014
AutomotiveElectronicsCouncil^^^^^^―
ComponentTechnicalCommittee
AeC-QIOO-REV-HSePtember11,2014
AeC-QIOO-REV-H
SePtember11,2014
AutomotiveElectronicsCouncil
ComponentTechnicalCommittee
AEC-Q100-Rev-H
SePtemberlIq2014
FAILUREMECHANISMBASED
STRESSTESTQUALIFICATION
FOR
INTEGRATEDCIRCUITS
AutomotiveElectronicsCouncil^—^≡-^^―
ComponentTechnicalCommittee
TABLEOFCONTENTS
AEC-QlOOFailureMechanismBasedStressTestQualificationforIntegratedCircuits
Appendix1:
DefinitionofaQualificationFamily
Appendix2:
Q100CertificationofDesign,ConstructionandQualification
Appendix3:
PlasticPackageOpeningforWireBondTesting
Appendix4:
MinimumRequirementsforQualificationPlansandResults
Appendix5:
PartDesignCriteriatoDetermineNeedforEMCTesting
Appendix6:
PartDesignCriteriatoDetermineNeedforSERTesting
APPendiX7
AEeQIOOandthnUSSOfMiSSiOoProfileS
Attachments
AEC-Q100-001:
WIREBONDSHEARTEST
AEC-Q100-002:
HUMANBODYMODEL(HBM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-003:
MACHINEMODEL(MM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST(DECOMMISSIONED)
AEC-Q100-004:
ICLATCH-UPTEST
AEC-Q100-005:
NONVOLATILEMEMORYWRITE/ERASEENDURANCE,DATARETENTION,ANDOPERATIONALLIFETEST
AEC-Q100-006:
ELECTRO-THERMALLYINDUCEDPARASITICGATELEAKAGE(GL)TEST(DECOMMISSIONED)
AEC-Q100-007:
FAULTSIMULATIONANDTESTGRADING
AEC-Q100-008:
EARLYLIFEFAILURERATE(ELFR)
AEC-Q100-009:
ELECTRICALDISTRIBUTIONASSESSMENT
AEC-Q100-010:
SOLDERBALLSHEARTEST
AEC-Q100-011:
CHARGEDDEVICEMODEL(CDM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-012:
SHORTCIRCUITRELIABILITYCHARACTERIZATIONOFSMARTPOWERDEVICESFOR12VSYSTEMS
RevisionSummary
ThisinformativesectionbrieflydescribesthechangesmadeintheAEC-Q100Rev-Hdocument,comparedtopreviousdocumentversion,AEC-Q100Rev-G(May14,2007).Punctuationandtextimprovementsarenotincludedinthissummary.
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