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本发明提供一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法，获取超宽带低相位噪声频率源内VCO阵列中每个VCO的最差相位噪声频点、最差输出功率频点、最差杂散抑制频点，汇总得到测试频点数据集，并依据测试频点数据集进行超宽带低相位噪声频率源的测试。由于超宽带频率源的输出功率、输出带外杂散等指标均取决于VCO，而同一个超宽带低相位噪声频率源内，仅VCO是窄带VCO的叠加，其余器件不变，所以相位噪声指标最差的频点也是取决于各窄带VCO最差的频点，本发明根据VCO的特性准备测试频点数据集、进行锁相确认，并覆盖相位
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117783664A
(43)申请公布日2024.03.29
(21)申请号202311537260.8
(22)申请日2023.11.17
(71)申请人北京遥测技术研究所
地址100
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