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一种启动时进行引脚内建自测试的芯片.pdfVIP

一种启动时进行引脚内建自测试的芯片.pdf

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    本发明提供一种启动时进行引脚内建自测试的芯片，其包括：边界扫描链；测试访问端口控制器，其与测试数据输出引脚和测试数据输入引脚相连；锁相环，其在芯片上电后启动，在锁相环锁定后，使得启动模式信号有效；第一多路选择器，其包括接收锁相环输出的时钟信号的第一输入端、与测试时钟引脚相连的第二输入端、与测试访问端口控制器相连的输出端和接收启动模式信号的控制端；引脚特征寄存器；引脚状态寄存器；比较单元，其包括与边界扫描链中的最后一个边界扫描单元相连的第一输入端、与引脚特征寄存器相连的第二输入端和与引脚状态寄存器

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117789803A

    (43)申请公布日2024.03.29

    (21)申请号202311778568.1

    (22)申请日2023.12.21

    (71)申请人上海芯联芯智能科技有限公司

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