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一种基于温度与电磁应力耦合的磁通门电流传感器可靠性测评方法及系统.pdfVIP

一种基于温度与电磁应力耦合的磁通门电流传感器可靠性测评方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种基于温度与电磁应力耦合的磁通门电流传感器可靠性测评方法及系统，首先将磁通门电流传感器分别在温度和电磁应力下进行加速退化测试，并获得测试数据，接着基于获得的温度应力下测量值和电磁应力下测量值分别建立温度边际退化模型和电磁边际退化模型；本发明实现了具有测评电子产品在温度与电磁环境应力下可靠度的功能，且通过在各个应力下的加速退化测评能得到磁通门电流传感器的寿命，而加速退化测试能充分利用产品在退化测试过程中的有用信息，为将产品在高应力水平下的退化数据外推到正常应力水平提供了基础，提高了测

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117783979A

    (43)申请公布日2024.03.29

    (21)申请号202311672250.5(51)Int.Cl.

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