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本发明公开了一种波前传感器残差约束的成像光路静态像差检测方法。该方法包括：利用自适应光学系统的夏克‑哈特曼波前传感器获取部分校正后的残余像差数据作为先验约束信息，记录几组波前传感器波前残余像差数据以及对应的后端成像CCD相机畸变图像，将系统的波前传感器获取的残余像差数据作为初始约束调制量，使用离线随机并行梯度下降(SPGD)迭代算法拟合畸变图像，将实际的畸变图像引入目标函数，迭代检测出系统的成像光路静态像差系数向量ξ。利用本发明，不改变既有光路结构，无需其他检测设备，可以唯一高精度获取成像光路的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117782534A
(43)申请公布日2024.03.29
(21)申请号202311805861.2
(22)申请日2023.12.26
(71)申请人中国科学院光电技术研究所
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