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本发明公开一种重叠区域的缺陷去重方法,从第一幅图像开始,对相邻两幅图像依次进行以下处理:获取图像中的缺陷点分别存储到点集P、点集Q;从点集P中各个像素坐标,与点集Q中的各个像素坐标分别组合,判断组合中的两个像素坐标是否为同一个缺陷点;若点集P中某个像素坐标与点集Q中的所有像素坐标均不是同一缺陷点坐标,则将该像素坐标及其所在图像的序号i存储到点集B中;将点集B中的像素坐标记为去重后的缺陷点坐标。本方法对检出缺陷进行合并、筛选,保证了缺陷不误筛除、不漏合并,有效筛除了重复缺陷,保证了缺陷定位的准确性
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117808777A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311861614.4
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人易思维(杭州)科技股份有限公司
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