原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明提供了一种芯片的老化测试装置，涉及芯片测试技术领域。本发明中老化测试装置的老化抽屉中设置至少一个温控平台位于第一PCB板上，每个夹具对应一个温控平台且位于温控平台的上方，夹具的安装座上设有相邻且用于分别安装待测试芯片和温度检测件的第一安装位和第二安装位，位于第一PCB板上的控制器与第一PCB板和温控平台连接，控制器根据温度检测件检测的待测试芯片的实际温度和预设温度控制对应的温控平台的加热温度，这样不仅能够保证每个温度检测件检测到的温度为对应的待测试芯片的实际温度，还使得每个待测试芯片的加热
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117805586A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311857363.2
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人苏州联讯仪器股份有限公司
地址
文档评论（0）