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一种基于过程控制的元器件筛选试验优化方法.pdfVIP

一种基于过程控制的元器件筛选试验优化方法.pdf

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    本发明设计了基于过程控制的元器件筛选试验优化方法，该方法基于元器件历史过程控制和与质量数据分析，通过筛选有效性分析、筛选‑工序关联性分析等方法确定优化方案，实现试验项目减免、试验应力调整、试验顺序优化等针对性优化调整。并通过风险分析确定优化后出现不合格品的风险，最终实现筛选试验的动态监控和调整，实现高效率、差异化质量保证。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117828832A

    (43)申请公布日2024.04.05

    (21)申请号202311655606.4G06F119/14(2020.01)

    (22)申请日2023.12

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