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一种微波元器件测试的批量去嵌方法及系统.pdfVIP

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  • 2024-04-06 发布于四川
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一种微波元器件测试的批量去嵌方法及系统.pdf

    本发明涉及微波元器件测试技术领域，提供了一种微波元器件测试的批量去嵌方法，包括以下步骤：S1：选择包含至少一个待去嵌数据的微波元器件的一组待去嵌数据组合，其中，所述待去嵌数据组合为通过相似度匹配算法进行匹配后的能够采用相同去嵌方法进行去嵌的所述待去嵌数据的组合；S2：基于选择的所述待去嵌数据组合选择或自定义与当前所述待去嵌数据组合相匹配的所述去嵌方法；S3：使用选择或自定义的所述去嵌方法对所述待去嵌数据组合中的每一个所述待去嵌数据进行去嵌，生成与每一个所述待去嵌数据相对应的去嵌后数据。对微波元器

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117828268A

    (43)申请公布日2024.04.05

    (21)申请号202311803281.X

    (22)申请日2023.12.26

    (71)申请人上海概伦电子股份有限公司

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