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本申请提供一种半导体结构的制备方法、半导体结构及半导体器件,上述方法包括:提供一形成有鳍状结构的衬底;其中,鳍状结构包括在第一方向上排布的器件区和场区;去除鳍状结构中位于场区的第一部分,保留场区的第二部分;基于鳍状结构的上部,形成第一半导体结构,第一半导体结构包括第一源漏结构、第一源漏金属和第一层间介质层;倒片并去除衬底,以暴露鳍状结构的下部;去除场区的第二部分,以暴露第一层间介质层;基于鳍状结构的下部,形成第二半导体结构,第二半导体结构包括第二源漏结构、第二源漏金属和第二层间介质层;第一层间介
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117832173A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202311740316.X
(22)申请日2023.12.18
(71)申请人北京大学
地址100871
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