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本实用新型公开了一种存储芯片简易测试装置，属于芯片测试技术领域，其包括测试柜，所述测试柜前方连接有柜门，所述柜门上固定连接有把手，所述测试柜上方固定连接有制温箱，所述制温箱两侧固定连接有多个通风管，所述测试柜内部固定连接有固定板，所述固定板上连接有隔板，所述测试柜内部固定连接有罩壳，所述测试柜内部安装有升降装置，所述测试柜下方连接有万向轮，所述测试柜下方固定连接有支撑柱，所述罩壳上开设有通风口，所述罩壳内安装有风扇。该存储芯片简易测试装置，通过风扇和制温箱的制造高温或低温气流，使得测试柜内部温度
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220731185U
(45)授权公告日2024.04.05
(21)申请号202322511202.X
(22)申请日2023.09.15
(73)专利权人深圳市陆和神州科技有限公司
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