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本申请涉及芯片评估技术领域，公开一种用于评估芯片软错误率的方法。该方法包括将待测芯片存储器所在的位置确定为目标测试位置；控制激光诱导辐射装置按照目标辐照策略对目标测试位置施加辐射应力；在确定加速测试参数已预置的情况下，对待测芯片进行加速测试，以获得单位时间内待测芯片的软错误发生次数；根据单位时间内待测芯片的软错误发生次数，计算待测芯片的软错误率。本申请通过采用激光诱导辐射取代传统加速器或反应堆等中子源产生的高能辐射粒子，并通过加速试验模型诱导软错误，实现测试过程简单化和测试装置小型化，在缩短测试
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117849579A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311725973.7
(22)申请日2023.12.15
(71)申请人青岛海尔电冰箱有限公司
地址2
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