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本发明涉及一种杂质识别模型的训练方法、检测方法、设备和介质，训练方法包括以下步骤：获取第一数据集、第二数据集和第三数据集，第一数据集、第二数据集和第三数据集均根据特征波段组得到，特征波段组根据所有高光谱采样波段和预设算法得到，利用第一数据集训练未训练的杂质识别模型，得到第一杂质识别模型，利用第二数据集验证第一杂质识别模型，利用第三数据集测试第一杂质识别模型，得到训练好的杂质识别模型。本发明可以提高杂质检测的准确率，应用于杂质检测领域。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117853838A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311645601.3
(22)申请日2023.12.01
(71)申请人清华珠三角研究院
地址5105
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