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实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
一、实验目的
1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
2、掌握TTL器件的使用规则
3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法
二、实验原理
本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图1—1(a)、(b)、(c)
图1—174LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列
1、与非门的逻辑功能
与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得
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