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- 2024-04-13 发布于四川
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本发明涉及一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法,1)针对器件级电路建立基本单元NMOS管和PMOS管的物理模型;2)建立瞬时光电流模型;3)在每个NMOS管和PMOS管并联瞬时光电流模型得到获得基本单元NMOS管和PMOS管的瞬时剂量率效应的SPICE微模型;4)在SPICE仿真软件中输入模块级电路的电路配置文件和电路网表文件,在SPICE中得到模块级电路连接模型,并将所述SPICE微模型代入到模块级电路连接模型中建立模块级电路瞬时剂量率效应模型;5)对步骤4)得到的模块级电路瞬时剂量率效应
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN112036110A
(43)申请公布日2020.12.04
(21)申请号202010899992.1G01T1/02(2006.01)
(22)申请日20
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