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本申请公开了一种时钟驱动电路及芯片测试装置，涉及测试技术领域。该时钟驱动电路包括时钟源和推挽电路，时钟源连接推挽电路的输入端，推挽电路的输出端用于连接芯片测试装置安装的多个芯片的时钟端；推挽电路用于对时钟源输入的时钟信号进行功率放大后向时钟端输出功率放大后的时钟信号。通过上述技术手段，推挽电路可将时钟源提供的时钟信号进行功率放大，以将能量更大的时钟信号输送给各个芯片，保证时钟信号正确传输的同时向芯片输出稳定的电源能量，解决了现有技术中芯片测试装置无法同时对多个芯片进行测试的问题，提高了芯片测试装
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220775797U
(45)授权公告日2024.04.12
(21)申请号202322497114.9
(22)申请日2023.09.13
(73)专利权人广州众诺微电子有限公司
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